X射線衍射儀(XRD)是通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。

　　X射線衍射儀使用注意事項(xiàng)：

　　(1)固體樣品表面>10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。

　　(2)對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常，需提供測(cè)試方向。

　　(3)對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力(晶格畸變)，測(cè)量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。

　　(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。

　　構(gòu)造：

　　X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，為衍射儀的基本構(gòu)造原理圖，主要部件包括4部分。

　　(1) 高穩(wěn)定度X射線源　提供測(cè)量所需的X射線, 改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng), 調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。

　　(2) 樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。

　　(3) 射線檢測(cè)器　檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向, 通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。

　　(4) 衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。